設(shè)計(jì)缺乏可檢測(cè)性造成檢測(cè)困難

• 元器件間距過(guò)小。

• 較高元器件附近未留足空間，飛針等設(shè)備無(wú)法操作。

• 測(cè)試點(diǎn)隱藏或遮蔽（如測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)在元器件底部）而無(wú)法接觸電測(cè)試點(diǎn)。測(cè)試點(diǎn)尺寸、間距過(guò)小和焊盤(pán)可焊性涂層材料用OSP。